Bielen Jeroen
Γλώσσα
Αγγλική
Ημερομηνία
27/06/2011
Διάρκεια
34:40
Εκδήλωση
12th International Symposium on RF MEMS and RF Microsystems
Χώρος
Πανεπιστήμιο Αθηνών - Αμφιθέατρο Ι. Δρακόπουλος
Διοργάνωση
Εθνικό και Καποδιστριακό Πανεπιστήμιο Αθηνών
European Microwave Association
Κατηγορία
Τεχνολογία
Ετικέτες
RF-MEMS, ζώνες συχνοτήτων, κινητή τηλεφωνία
Με την αύξηση του αριθμού των ζωνών συχνοτήτων και τον αυξανόμενο αριθμό πρωτόκολλων επικοινωνίας στα σύγχρονα κινητά τηλέφωνα, γίνεται όλο και πιο δύσκολο να σχεδιαστεί μία μικρή, υψηλής απόδοσης κεραία σε όλες αυτές τις συχνότητες, ενώ η αλληλεπίδραση των χρηστών (επιδράσεις στο κεφάλι και το χέρι) προκαλούν τον αποσυντονισμό της κεραίας.
Στην EPCOS Ολλανδία, μία ομάδα σχεδιασμού της εταιρείας TDK, έχει αναπτυχθεί ένα κλειστό σύστημα δέκτη που προσαρμόζεται στην κεραία, το οποίο μπορεί να αμβλύνει το πρόβλημα. Αυτός ο δέκτης κεραίας , ενσωματωμένος σε έναν ευρύτερο σχεδιασμό ικανό να συνδυάσει διάφορες τεχνολογίες, τοποθετείται ανάμεσα στα τηλέφωνα FR front-end. O ανιχνευτής φάσης ανιχνεύει την αναντιστοιχία, από την οποία το λογισμικό που εφαρμόζεται σε έναν μικροελεγκτή αποφασίζει για τη βέλτιστη τιμή ενός παθητικού συστατικού ρύθμισης για τη βελτίωση του αποτελέσματος.
Αυτό το στοιχείο ρύθμισης, πιο συγκεκριμένα μία παράταξη δυαδικής κλίμακας πυκνωτή, είναι ο πυρήνας μιας τέτοιας μονάδας. Πρέπει να υπάρχει χαμηλή απώλεια παρεμβολής, υψηλή γραμμικότητα με ένταση μέχρι 35dBm και μεγάλες αναντιστοιχίες. Οι κατάλληλες τεχνολογίες για αυτά τα στοιχεία ξεκινάνε από σχετικά χαμηλού κόστους RF CMOS με HR-SOI σε βάρος της ενέργειας, μέχρι τα πιο ακριβά GaAs pHEMT με καλύτερη γραμμικότητα, χειρισμό και απώλεια ενέργειας, σε επίσης χαμηλού κόστους RFMEMS που έχουν εξαιρετική γραμμικότητα και χειρισμό ενέργειας αλλά έχουν κακή εικόνα όταν πρόκειται για την αξιοπιστία και τις δυνατότητες κατασκευής. Οι κίνδυνοι αξιοπιστίας των RF-MEMS μπορεί να μετριαστούν με τη βελτιστοποίηση του υλικού και σωστό σχεδιασμό που απαιτεί εκτεταμένη μοντελοποίηση και κατανόηση των βασικών μηχανισμών αποτυχίας όπως τη διηλεκτρική φόρτιση, τη μηχανολογική υποβάθμιση λόγω πλαστικότητας, τον ερπυσμό και τη ρεύστο-ελαστικότητα.
Μελλοντικοί δείκτες αυξημένης πολυπλοκότητας θα σηκώσουν και πάλι τον πήχη της RF απόδοσης για όλα τα στοιχεία συντονισμού.
Ο Jeroen Bielen γεννήθηκε το 1970 και το 1994 ολοκλήρωσε τις μεταπτυχιακές του σπουδές ως Ηλεκτρολόγος Μηχανικός και το 1996 απέκτησε το βαθμό του Επαγγελματία Τεχνολόγου Σχεδιαστή από το Πανεπιστήμιο Twente, στην Ολλανδία. Το 1998 ξεκίνησε τη συνεργασία του με την εταιρεία Philips Ημιαγωγοί (η οποία αργότερα έγινε η NXP), δουλεύοντας στο τμήμα συσκευασίας RF προϊόντων στην θερμική ανάλυση, στη φυσική των αποτυχιών, βασισμένη σε αξιόπιστα μοντέλα και multi-physics προσομοιώσεις. To 2008 εντάχθηκε στην EPCOS (ιδιοκτησία πλέον της TDK) με το πρόγραμμα RF-MEMS ως σχεδιαστής συσκευών. Τα τρέχοντα ενδιαφέροντά του είναι ο σχεδιασμός, τα μοντέλα multi-physics και η αξιοπιστία των RF-MEMS διακοπτών, η ένταξη συσκευασιών και συστημάτων και τα αναδιαρθρώσιμα συστήματα των RF.